Testsystem och utförande
I detta test använder vi oss av två programmerbara konstlaster speciellt utformade för ATX- och EPS-nätdelar. Sun Moon SM-5500ATE-enheterna har gemensamt tio separata lastkanaler som ger oss möjlighet att på ett smidigt sätt belasta nätdelarna precis som vi själva vill, och kontrollera om de verkligen håller vad de lovar.
För varje nätdel vi testar programmeras konstlasten med fyra testlaster, där varje last är uträknad från den aktuella modellens specifikation. Den lägsta lasten, som ligger på 10 procent av nätdelens maximala kapacitet, är tänkt att simulera en vanlig entusiastdator utan någon direkt belastning. Detta följs av 25 procents belastning, vilket motsvarar ett lätt belastat system.
Nästa steg är vid 50 procents belastning och motsvarar den last ett system vanligtvis utsätts för när det kommer till spel eller andra lite tyngre applikationer. När vi kommer upp till 75 procent kan det liknas vid ett överklockat system där även flera grafikkort används. Sist men inte minst har vi den tyngsta lasten vid 100 procent, där vi ser om nätdelen verkligen lever upp till sina specifikationer.
Varje testlast körs mellan 45–60 minuter medan rippel och brus mäts med hjälp av ett digitalt oscilloskop kopplat till konstlasten. Samtliga spänningar noteras och sparas samtidigt som verkningsgrad och effektfaktor bestäms med hjälp av en Voltcraft Energy Monitor. Lufttemperaturen i rummet och vid nätdelens utblås mäts och övervakas under testningen.
Vi är medvetna om att många är intresserade av nätdelarnas ljudnivå, men då själva konstlasten i sig har en väldigt hög ljudnivå är det i princip omöjligt att mäta av några pålitliga siffror från nätdelarna. Det närmaste vi kommer som substitut i det här fallet är en subjektiv bedömning av ljudnivån samt att nätdelarnas fläkthastighet mäts med en optisk varvtalsräknare vid varje testlast.
Det här testar vi inte
Även om våra syntetiska tester har många fördelar kan de aldrig helt ersätta långtidstester inuti en riktig dator. Det senare har vi inte gjort, eftersom det varken fanns tid eller resurser att testa samtliga nätdelar på det viset.
Inuti en dator får nätdelar i regel problem med kraftigt ökad temperatur vid högre uteffekter eftersom datorkomponenterna värmer upp luften. Vår testmiljö är därför inte helt jämförbar då nätdelarna står fritt vid en rumstemperatur på cirka 20 °C.
